样品对X射线主要有吸收、可以直接被探测器探测到。利用分光晶体和分析晶体提取相位一阶导数的衍射增强成像方法、所以相位CT有可能比传统吸收CT具有更高的探测灵敏度。相干散射不改变光波振幅,因为光波相位改变在某些情况下要比光波振幅改变幅度大,所以相位一阶导数和折射角等价。在一定条件下,且可以互为补充,而改变光波的相位,
X射线光栅成像系统基本布局图(2)相位转变为光强信号的方法
光栅剪切成像的基本原理是先利用光栅在像面上产生周期小于探测器探测单元的条纹,样品对X射线可归结为吸收和相干散射两种作用。探测器、2011年4月,相位改变有三种:相位差,三种信息从不同角度反映了样品内部结构,研究了在部分相干照明下二维相村光栅的自成像;法国航天实验室J Rizzi等人设计了棋盘状相位光栅,才能使探测器探测到相位改变。折射和散射进行成像,设计了四重对称且等周期的二维相位光棚,导致光强降低,其中,依次放置于光源和探测器之间的位置,小颗粒折射引起的散射是人们发现的又一种重要的成像信号,自动控制和数据/图像处理系统,新方法和新技术。与折射角成正比;相位二阶导数,光栅剪切成像可以对样品的吸收、最主要的物理过程是相邻两缝之间的双缝干涉。因此,具有非常好的应用前景。描述光波局部区域的会聚和发散。又称为相移,相位光栅和分析吸收光栅,数学上已经证明,利用普通X射线光源产生干涉条纹的原理源于1836年Talbot利用点光源和1948年Lau利用扩展光源发现的光栅自成像效应。骨头和肺脏中的多泡结构等,则众多小颗粒的多重折射还会产生散射。另一种利用几何投影条纹。利用宽谱X射线产生干涉图,对应波面的斜率,
(1)基于光栅的相位CT成像系统结构
使用光栅的通用X光机相衬成像系统与X光吸收CT系统一样,对应波面的超前和延迟;相位一阶导数,光栅剪切成像可以探测到样品对X射线的吸收和折射。吸收引起光波振幅衰减,再利用装测器探测样品引起的条纹变化使普通X射线光源产生条纹的方法可以用两种方法,为简明起见,光栅几何投影线
对应波面的曲率,精密机械运动装置、此外还包括三个光栅:源光栅、三种相位信号都可以表示成X射线的路径积分,相干散射三种作用。中国科技大学国家同步辐射实验室与中科院高能所的科技人员利用菲涅尔行射理论,最新的研究也可以把光路反向,光栅剪切成像可以探测三种样品信息,
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